在集成电路（IC）开发过程中，验证是非常昂贵的流程。而且也很难高效地完成验证。工业界目前广泛采用的是覆盖率驱动式验证（CDV），但这种方法也被认为是不完备的验证方法。

在执行验证环境时必须满足下列三个条件才能发现设计的缺陷，：

1. 缺陷必须被激活，例如包含缺陷的代码段必须被使用。
2. 缺陷必须传递