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位移测量技术及其传感器的最新发展
2009年2月1日
第九届CIMT2005中国国际机床展览会上展示了当今世界位移测量技术最新的发展和最新型的位移传感器,并将数控技术和数控机床推向更高精度、更高速度、更高可靠、更高效率的发展,也将数显技术和数显量具推向一个新的高度。
1.最新发展主要体现在三个方面
1绝对式光栅尺在控制系统中逐步取代现在通用的增量式光栅尺,并广泛应用于反馈控制系统和数控机床。采用绝对式光栅尺的测量系统在设备通电的同时后续电路就可以获得绝对位置,不再需要在开机后寻找参考零位,提高了系统的可靠性和工作效率
 
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